北京合能阳光新能源技术有限公司

多角度激光椭偏仪

多角度激光椭偏仪（pH-LE型）专门针对晶硅太阳能电池绒面上的减反膜测量，能够测量薄膜厚度及其光学常数，使用632.8nm波长氦氖激光器，具有高的度和准确度。 　　 　　多角度激光椭偏仪-产品特点 　　 　　... ...

少子寿命测试仪

产品： 　　HS-MWR-2S-3无接触少子寿命扫描仪是一款功能异常强大的无接触少子寿命扫描仪，能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、伤、高分辨率的多功能扫描测试，其通过微波光电衰退特性原理来测... ...

无接触厚度电阻率测试仪

产品 　　NCS-R80无接触厚度电阻率测试仪是一款用于硅片的厚度、电阻率测量的仪器，该仪器适用于Si，GaAs，InP，Ge等几乎的材料，的设计都合ASTM（美国材料实验协会）和Semi标准，与其他工艺仪... ...

红外探伤测试仪

NIR-01是由Phys Development lab 公司生产和的，Phys Development lab 公司是欧洲家生产和销售红外探伤系统的制造商，提供光伏行业界的红外探伤仪器，NIR-01是专门用于多晶硅片生产中得硅块硅棒硅片中... ...

无接触电阻率测试仪

产品 　　HS-TRM-100型无接触式电阻率型号测试仪是基于涡流（Eddy Current）测试技术，能够对硅料、硅棒、硅锭及硅片进行无接触、伤的体电阻率测试。 　　 　　无接触式电阻率型号测试仪-产品特点 　　■测试... ...

母合金

合能阳光提供母合金类型：HSD-P3碎块状母合金P型-3次方0.0010-0.0090Ω。cm以下，碎块状，碳含量（atom/cm3）<5e16，氧含量（atom/cm3）<1e18，具体每段将详细标出，每段电阻率偏差在0.001或 ...

无接触硅片厚度TTV电阻率综合测试仪

产品介绍 　　PV-2000系列无接触硅片厚度TTV电阻率综合测试系统为太阳能/光伏硅片及其他材料提供快速、多通道的厚度、（总厚度变化）TTV、翘曲及无接触电阻率测量功能。并提供基于TCP/IP的数输接口及基于Win... ...

圆度测试仪（RA2000）

RA2000是一种操作简便的测量仪，用于对工件的几何尺寸是圆度进行测量。此设备测量的准确性，为产品品质提供的保障。 　　 　　产品特点： 　　■操作简便，不需要知识和技巧 　　■软件分析... ...

偏光应力仪（PKS-250M）

PKS-250M偏光应力仪可对透明及弱色材料的双折射率进行检测，并通过Senarmont补偿法计算出光程误差不过10nm的双折射率的值。并通过偏振光对双折射率的分布进行检测分析。折射率的分布和大小直接反应出材料应... ...

平整度测试仪（OWT-200）

产品简介 　　OWT-200才用PHYS技术，对透明、半透明、不透明几乎的材料的厚度，TTV，LTV，弯曲度，平整度进行无接触测量，其对透明、半透明材料的高测量的性价比在同类测试仪器中是的。... ...